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牛津仪器镀层测厚仪-MAXXI 6

作者: admin 时间:2017-07-21 来源:未知

牛津仪器镀层测厚仪-MAXXI 6

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MAXXI 6

牛津仪器镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的一致性和高品质。

  • 高分辨率的硅漂移器(SDD)

  • 开槽式超大样品舱设计

  • 8个准直器

  • USB接口与计算机连接

 

        我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。

        镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。

 

 

 

 

亮点

  • 采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低

  • 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)

  • 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率

  • 开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品

  • “USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件

  • 德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性

  • 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准

     

 

性能及符合性

  • 最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正

  • 同时实现多于25种元素的定量分析

  • 检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证

 

开槽式大样品台

  • 可编程的XY样品台

  • 样品腔体积:500 × 450 × 170 mm

  • 创新的防撞设计

 

可编程的样品台

  • 预定位激光技术

  • 最大化的样品台行程范围及速度

  • 自动测量

 

 

 

 

 

 

 

 

 

软件及校准

  • 基于WindowsTM 7操作系统,直观的软件MaxxControl

  • 选择经验校准以实现最大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准

  • 成分分析:可自由选择元素;厚度测量:可自定义镀层结构

  • 对RoHS和贵金属进行工厂预装校准(可选)

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